透射工作模式——超聲波掃描顯微鏡

超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式，分別是反射和透射。這里著重 介紹一下透射工作模式。在透射模式下需要兩個換能器才能工作，一個用于發(fā)射超聲波，位于樣品的上方；一個用于接收透過樣品的超聲波，固定于樣品的底部。透 射工作模式用于樣品內部分層缺陷的快速簡易篩選，主要是針對一些大企業(yè)或工廠，有大量產品需要篩檢的場合。超聲波掃描顯微鏡的透射工作模式原理，如圖如 示：

透射模式無法確定被測材料內部缺陷的深度位置，但可以比反射掃描模式更快捷，方便的判斷被測器件內部是否有缺陷，因此被許多半導體封裝企業(yè)在篩選產品時所廣泛應用。